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AI在工业製造的应用(yòng)愈来愈广，光學(xué)检测也普遍导入AI应用(yòng)，透过AI优秀的分(fēn)类及检出能(néng)力，大幅提高生产速度，并简化设备需求。晶彩科(kē)技也透过AI物(wù)件侦测技术导入到MicroLED量测上，提供给客户最简单有(yǒu)效的解决方案，成為(wèi)智慧製造的品质守护者。
晶彩科(kē)技透过AI物(wù)件侦测技术的导入，可(kě)即时检测LED瑕疵，此外能(néng)以非常快的速度量测所有(yǒu)LED的偏移、旋转，且凭藉着晶彩多(duō)年来的光學(xué)设计经验，一般需要仰赖3D量测模组才能(néng)量测的LED发光面倾斜，也可(kě)直接透过晶彩科(kē)技自行开发的成像系统来取得，达成AI瑕疵检测过程中同时完成了LED偏移量测、LED旋转量测、LED倾斜量测，大幅提高生产速度，并简化设备需求。
AI或是传统演算法并没有(yǒu)绝对的优劣之分(fēn)。在当今少量多(duō)样与客製化的趋势之下，AI技术应用(yòng)在背景複杂，製程变异大，或是瑕疵型态不固定的状况下，将有(yǒu)更佳的应用(yòng)空间。相对的，在大面积、製程固定一致，对速度要求严苛的场域，则非常适合传统演算法，究竟採取何种方式，除了使用(yòng)者的判断之外，更是专业AOI厂商(shāng)的智慧。晶彩科(kē)技公司展出摊位：南港展览馆一馆4楼L526。
