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AI在工業製造的應用(yòng)愈來愈廣，光學檢測也普遍導入AI應用(yòng)，透過AI優秀的分(fēn)類及檢出能(néng)力，大幅提高生產速度，並簡化設備需求。晶彩科(kē)技也透過AI物(wù)件偵測技術導入到MicroLED量測上，提供給客戶最簡單有(yǒu)效的解決方案，成為智慧製造的品質守護者。
晶彩科(kē)技透過AI物(wù)件偵測技術的導入，可(kě)即時檢測LED瑕疵，此外能(néng)以非常快的速度量測所有(yǒu)LED的偏移、旋轉，且憑藉著晶彩多(duō)年來的光學設計經驗，一般需要仰賴3D量測模組才能(néng)量測的LED發光面傾斜，也可(kě)直接透過晶彩科(kē)技自行開發的成像系統來取得，達成AI瑕疵檢測過程中同時完成了LED偏移量測、LED旋轉量測、LED傾斜量測，大幅提高生產速度，並簡化設備需求。
AI或是傳統演算法並沒有(yǒu)絕對的優劣之分(fēn)。在當今少量多(duō)樣與客製化的趨勢之下，AI技術應用(yòng)在背景複雜，製程變異大，或是瑕疵型態不固定的狀況下，將有(yǒu)更佳的應用(yòng)空間。相對的，在大面積、製程固定一致，對速度要求嚴苛的場域，則非常適合傳統演算法，究竟採取何種方式，除了使用(yòng)者的判斷之外，更是專業AOI廠商(shāng)的智慧。晶彩科(kē)技公司展出攤位：南港展覽館一館4樓L526。
